最新の小角Ｘ線散乱測定装置によるナノ材料の構造評価
-講演及び実演会-




主催　日本油化学会界面科学部会
共催　横浜国立大学機器分析評価センター
協賛　（株）リガク、スペクトリス（株）パナリティカル事業部


高分子や界面活性剤のミセルなどのソフトナノ粒子、無機ナノ粒子、メソポーラス材料等のナノ材料の研究が非常に盛んになっている。また医薬品、化粧品、食品、農薬、潤滑剤、切削油、洗浄などにおいても、ナノオーダーの構造を持ち、それが機能に関係している場合が極めて多い。ナノ材料の構造を評価するために、Ｘ線散乱、とりわけ小角Ｘ線散乱は最も有力な解析手段になりつつある。今回は小角Ｘ線散乱法による基礎的な原理および最新の研究を専門家の方々に講演して頂くとともに、スペクトリス（株）パナリティカル事業部、（株）リガク両社の協力を得て、最新鋭の高輝度小角Ｘ線散乱装置、小角広角同時測定可能なKratky型の最新機種SAXSess（パナリティカル）と、CCDカメラ、オートサンプルチェンジャーのついたNanoviewer（リガク）の説明会・実演会を行います。小角Ｘ線散乱法をご自身の研究課題にどう使えるか知りたい方、より性能の高い機種を考えている方、実際の装置を触れて見たい方、最新の研究結果に触れたい方などなど、ふるってご参加ください。



日　時　： 　2005年2月10日（木）13時〜17時
場　所　： 　横浜国立大学機器分析評価センター
13:00-13:45 　「小角Ｘ線散乱から何がわかる？-ゆらぎまたは不均一度に焦点
　をあてて-」西川恵子氏　（千葉大学大学院自然科学研究科）
13:45-14:30 　「小角Ｘ線散乱で探る界面活性剤、蛋白質溶液の世界」
　佐藤高彰氏　（早稲田大学大学院理工学研究科）
14:40-15:10 　「Nanoviewerが拓く新しい材料評価」　星野和人氏（リガク）
15:10-15:40 　「小角Ｘ線散乱法の最先端機種としてのSAXSess」
　瀬尾公一氏（パナリティカル）
15:40-17:00 　SAXSess, Nanoviewer装置見学・デモンストレーション
参加費　： 　日本油化学会界面科学部会員　　5,000円
　（日本油化学会普通会員は部会に無料登録できます。申込と同時登録もできます。）
　日本油化学会会員、法人会員　　7,000円
　非会員　　　　　　　　　　　　10,000円
　界面科学部会への登録方法　：　E-mail またはFAXで下記申込先まで氏名、
　日本油化学会会員番号、所属、所属所在地（〒住所）電話、FAX、E-mail
　アドレスをお知らせください。
申込先： 　横浜国立大学大学院環境情報研究院國枝研究室内
　日本油化学会界面科学部会事務局　荒牧
　電話&FAX 045-339-4300
　E-mail:　aramakik@ynu.ac.jp
送金先： 　　横浜銀行　和田町支店　普通1440021
　　口座名　日本油化学会界面科学部会関東支部
　　（ニホンユカガクカイカイメンカガクブカイカントウシブ）







過去に行われた界面科学部会秋期セミナー

平成16年度　第51回界面科学部会秋季セミナー


平成15年度　第50回界面科学部会秋季セミナー


平成14年度　第49回界面科学部会秋季セミナー